葉經(jīng)理：18917110077
地 址 : 上海市浦東新區(qū)東高路26弄12號(hào)
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測(cè)量精密零件，如平面、圓柱等表面粗糙度(光潔度),也可以測(cè)量表面刻線、鍍層深度等，利用附件還能測(cè)量微顆粒、加工紋路、或低反射率的表面，也能將儀器安置在大型工件上進(jìn)行測(cè)量，是計(jì)量室和經(jīng)典教學(xué)儀器。 ●不平深度測(cè)量范圍：1～0.03µm (光潔度▽10～▽14) ●放大倍數(shù)：500×,分劃值0.01mm,測(cè)微目鏡分劃0.1mm. |
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在不破壞表面的狀況下，以光切法測(cè)量零件表面的微觀不平度、劃痕、刻線或缺陷的深度，適用于計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)、精密零件制造和科研等單位。 ●表面粗糙度測(cè)量范圍：12.5 ～0.2 (光潔度▽3～▽9) ●不平寬度測(cè)量范圍：0.7µm～2.5mm/或0.01µm～13mm. ●不平度測(cè)量范圍：0.8µm～80µm |
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系統(tǒng)具有計(jì)算機(jī)二維坐標(biāo)和影像測(cè)量雙重功能，由內(nèi)變焦物鏡和CCD攝像機(jī)采集測(cè)試件實(shí)物影像，測(cè)量軟件同步進(jìn)行各種測(cè)量工作。 ● 測(cè)量范圍：X-Y：300×200mm，分辨力1µm ● 放大倍數(shù)：30×～190×無(wú)級(jí)變倍, LED透反射照明, 快慢速傳動(dòng)機(jī)構(gòu) ● 配置：圖形數(shù)據(jù)采集處理器,二維坐標(biāo)和影像測(cè)量軟件（自備微機(jī)） |
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在不破壞表面的狀況下，以光切法測(cè)量零件表面的微觀不平度、劃痕、刻線或缺陷的深度，適用于計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)、精密零件制造和科研等單位。 ●表面粗糙度測(cè)量范圍：12.5 ～0.2 (光潔度▽3～▽9) ●不平寬度測(cè)量范圍：0.7µm～2.5mm/或0.01µm～13mm. ●不平度測(cè)量范圍：0.8µm～80µm |
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系統(tǒng)具有計(jì)算機(jī)二維坐標(biāo)和影像測(cè)量雙重功能，由內(nèi)變焦物鏡和CCD攝像機(jī)采集測(cè)試件實(shí)物影像，測(cè)量軟件同步進(jìn)行各種測(cè)量工作。 ● 測(cè)量范圍：X-Y：300×200mm，分辨力1µm ● 放大倍數(shù)：30×～190×無(wú)級(jí)變倍，LED透反射照明，快慢速傳動(dòng)機(jī)構(gòu) ● 影像測(cè)量?jī)x與工控平板電腦一體化(內(nèi)置：二維測(cè)量軟件，數(shù)據(jù)處理器) |
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